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                                  • AREX L 殘余奧氏體分析
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                                  產品名稱:

                                  AREX L 殘余奧氏體分析

                                  產品型號:
                                  更新時間: 2023-12-19
                                  品牌:
                                  生產地址:
                                  X 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法,而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據 ASTM E975 的X射線測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法,ARE X 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量,同時具有良好的檢出限、精度高、度好等優點,并且操作簡單,安全高效。
                                  • 詳細內容

                                  X 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法,而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據 ASTM E975 的X射線測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法,AREX L 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量,同時具有良好的檢出限、精度高、度好等優點,并且操作簡單,安全高效。

                                  主要特點

                                  1、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強度,符合 ASTM E975 標準;
                                  2、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優化取向帶來的影響;
                                  3、使用精密的自動反饋控制電路獲得很高的X射線發生器穩定性;
                                  4、自動調整高電壓與電流輸出脈動值;
                                  5、配備大功率、的玻璃(陶瓷)X 射線管;
                                  6、高聚焦單毛細管準直器,高分辨率CCD探測器。


                                   

                                   

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